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高低溫試驗箱

高低溫試驗箱

簡要描述:

高低溫試驗箱主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

一、產(chǎn)品型號

1.2JS-CDW1210/JS-CDW1010/JS-GDW8005

二、高低溫試驗箱概述

該烘箱是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件;GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造,主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

三、高低溫試驗箱主要技術(shù)參數(shù)

3.1 設(shè)備尺寸 內(nèi)尺寸:350×350×450mm外尺寸:750×940×1400mm (深×寬×高)

3.2溫度范圍 

120℃~+150,內(nèi)尺寸:400×500×500mm

-100℃~+150內(nèi)尺寸:400×500×500mm 

3.3溫度均勻度 

≤±2℃

 3.4溫度偏差

≤±2℃ 

3.5升溫速率

全程平均1.5/min

 3.6滿足標準

GB10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件;

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;

GJB150.3高溫試驗;
GJB150.4低溫試驗;

以上標準和規(guī)范僅如果被新標準和規(guī)范替代,執(zhí)行新的標準和規(guī)范,雙方另有約定的按照約定執(zhí)行。

、烘箱基本工作原理

 中央控制系統(tǒng)根據(jù)所采集到的箱內(nèi)溫度信號進行放大、模/數(shù)轉(zhuǎn)換、非線性校正后與溫度的設(shè)定值(目標值)進行比較,得出的偏差信號經(jīng)PID運算,輸出調(diào)節(jié)信號自動控制加熱器的輸出功率大小,使試驗室內(nèi)的加熱和熱散失達到一種動態(tài)平衡,最終達到恒溫目的

、箱體結(jié)構(gòu)

 5.1 結(jié)構(gòu)方式

采用整體式結(jié)構(gòu);工作室內(nèi)設(shè)有送風(fēng)系統(tǒng):送風(fēng)電機、離心扇葉、加熱器、加濕器、制冷蒸發(fā)器

 5.2 外殼材料

采用1.5mm優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板加工成型,表面經(jīng)酸洗磷化處理后雙面靜電噴塑。外觀涂鍍層應(yīng)平整光滑、色澤均勻,不得有露底、起泡、起層或擦傷痕跡。
箱體外部主色是灰白色。

 

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